Analisi X-RAY

XT V 160

X-RAY NanoTech 160KV di Nikon Metrology

L’ispezione X-ray non è un lusso, ma è un necessario step di processo con cui verificare quelle connessioni elettroniche che sono invisibili dall’esterno (BGA, LGA, QFN, CSP etcc..).

In EES utilizziamo il sistema a raggi X micro focus per la verifica della qualità, per la correzione degli errori e per la riparazione di circuiti stampati, dei connettori e dei cablaggi in genere.

Con Nikon Metrology XT V 160 abbiamo la possibilità di tracciare rapidamente gli eventuali errori interni che altrimenti rimarebbero nascosti nel prodotto con un effetto diretto sulla qualità del prodotto; inoltre grazie a questa analisi di prodotto abbiamo la possibilità di affinare il processo e di aumentare la produttività e la velocità di risposta verso il ns. cliente.

Il sistema Nikon XV 160 è dotato di un sistema a 5 assi che permette di analizzare i componenti da svariati punti di vista, e grazie al tubo radiogeno micro focus da 160 kV siamo in grado di analizzare anche materiali di elevata densità.

Specifiche Tecniche Nikon Metrology XT V 160

Nikon_X-RAY-XTV160.pdf